В пособии рассмотрены физические основы электронно-микроскопического, рентгеноструктурного, спектрального, микрорентгеноспектрального, магнитного, акустического методов контроля структуры материалов, качества изготовленных их них материалов и качества изготовленных из них деталей. Проанализированы методы выполнения исследований, приведены требования, предъявляемые к объектам исследований. Описаны принципы действия и устройство приборов, используемых для реализации методов, в том числе растрового и трансмиссионного электронного микроскопов, туннельного микроскопа, приборов спектрального, магнитного и акустического контроля....Для студентов, аспирантов и преподавателей технических вузов.
Чтобы оставить свою оценку и/или комментарий, Вам нужно войти под своей учетной записью или зарегистрироваться
Пока никто не оставил впечатление о книге...
Пока никто не оставил цитат из этой книги...
Автор | Indicator.ru |
Жанр | Общие вопросы |
Год | 2021 |
Автор | Маккиндер Хэлфорд |
Жанр | Общие вопросы |
Год | 2021 |
Автор | Короновский Николай |
Жанр | Общие вопросы |
Год | 2020 |
Автор | |
Жанр | Общие вопросы |
Год | 2019 |
Автор | Вайнерсмит Зак, Вайнерсмит Келли, З. Вайнерсмит, К. Вайнерсмит |
Жанр | Общие вопросы |
Год | 2018 |