Основы электротехники. Учебное пособие СПО

В монографии на основе анализа технической и патентной литературы и результатов исследований авторов за последние двадцать лет рассмотрены методы контроля, программы испытаний, конструкции устройств (тестеров) для контроля параметров аналоговых микросхем, силовых диодов и транзисторов, приведены описания отечественных и зарубежных тестеров. Монография предназначена для инженерно-технических работников предприятий электронной и радиоэлектронной промышленности, также может быть полезна студентам,...

Рассматриваются общие методы расчета линейных и нелинейных цепей с сосредоточенными и распределенными параметрами при постоянных и переменных токах в установившихся и переходных режимах, а также методы расчета полевых задач в электростатике, при постоянных и переменных токах. Учебное пособие предназначено для студентов, обучающихся по направлению подготовки "Электроэнергетика и электротехника", "Электроника и наноэлектроника" и др. (квалификация "бакалавр") очной и заочной форм обучения, а...

В учебном пособии рассматриваются общие методы расчета линейных и нелинейных цепей с сосредоточенными и распределенными параметрами при постоянных и переменных токах в установившихся и переходных режимах, а также методы расчета полевых задач в электростатике, при постоянных и переменных токах. Учебное пособие предназначено для студентов, обучающихся по электротехническим специальностям среднего профессионального образования, при изучении электротехники.

В учебном пособии рассматриваются общие методы расчета линейных и нелинейных цепей с сосредоточенными и распределенными параметрами при постоянных и переменных токах в установившихся и переходных режимах, а также методы расчета полевых задач в электростатике, при постоянных и переменных токах. Учебное пособие предназначено для студентов, обучающихся по электротехническим специальностям среднего профессионального образования, при изучении электротехники. 2-е издание, стереотипное.

В монографии на основе анализа технической и патентной литературы и результатов исследований авторов за последние двадцать лет рассмотрены методы контроля, программы испытаний, конструкции устройств (тестеров) для контроля параметров аналоговых микросхем, силовых диодов и транзисторов, приведены описания отечественных и зарубежных тестеров. Монография предназначена для инженерно-технических работников предприятий электронной и радиоэлектронной промышленности, также может быть полезна студентам,...